Πρόσκληση σε Ομιλία του Καθηγητή-Ερευνητή Luigi Dilillo (CNRS/IES – University of Montpellier)

Εκ μέρους του ερευνητικού έργου TWIN-RELECT, το οποίο επικεντρώνεται στον σχεδιασμό αξιόπιστων ηλεκτρονικών συστημάτων και στην ανάπτυξη καινοτόμων μεθοδολογιών αξιολόγησης αξιοπιστίας σε σύγχρονες τεχνολογίες ημιαγωγών, σας προσκαλούμε στη διάλεξη του Καθηγητή-Ερευνητή Luigi Dilillo (CNRS/IES – University of Montpellier) με θέμα:

“Dependability and Test of Systems and Complex Devices in Radiation Harsh Environments”

Η ομιλία θα πραγματοποιηθεί την Παρασκευή 10 Ιουλίου 2026 και ώρα 10:00 στην Αίθουσα 111 του Τμήματος Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών της Πολυτεχνικής Σχολής του Πανεπιστημίου Θεσσαλίας και μπορείτε να δηλώσετε συμμετοχή στον ακόλουθο σύνδεσμο:

https://docs.google.com/forms/d/1W7dZrJvt9lUWDyteIaNFwf-mJ0xR0RlPgeUfsRE7dsU/edit

Παράλληλα, ο Καθηγητής Luigi Dilillo αναζητά υποψήφιους διδάκτορες για να ενταχθούν στην ερευνητική του ομάδα στο Πανεπιστήμιο του Μονπελιέ. Η τρέχουσα ανοιχτή θέση αφορά την εξέλιξη της πλατφόρμας δοκιμών ακτινοβολίας RADNEXT, με στόχο τη βελτίωση της παρακολούθησης και καταγραφής σφαλμάτων σε αντίξοα περιβάλλοντα. Το αντικείμενο περιλαμβάνει την ανάπτυξη ανθεκτικών αρχιτεκτονικών με χρήση τεχνολογίας SONOS FPGA και επεξεργαστών RISC-V, καθώς και την ενσωμάτωση αλγορίθμων τεχνητής νοημοσύνης (FreeRTOS, TensorFlow Lite) για ανάλυση σε πραγματικό χρόνο. Όσοι φοιτητές ενδιαφέρονται για τα ενσωματωμένα συστήματα, την ανοχή σε σφάλματα (fault tolerance) ή τα ηλεκτρονικά αεροδιαστημικής, θα έχουν την ευκαιρία να συζητήσουν τις προοπτικές αυτές απευθείας μαζί του μετά την ομιλία. Για περισσότερες πληροφορίες μπορείτε να επικοινωνήσετε με τον Νίκο Χατζηβαγγέλη (chnikolaos@uth.gr).

Παρατίθεται η περίληψη της παρουσίασης καθώς και το βιογραφικό του Prof.-Res. Luigi Dilillo

Περίληψη Ομιλίας

Dependability and fault tolerance are critical challenges in modern electronic systems, especially as device scaling and complex architectures increase susceptibility to faults. These lectures provide a comprehensive overview of fundamental concepts in dependability, highlighting key obstacles and exploring a wide range of fault tolerance techniques. Various redundancy strategies—including information, hardware, temporal, software, and mixed approaches—are examined as essential methods to enhance system robustness.

A particular focus is placed on radiation-induced effects, especially Single Event Effects (SEEs). Memory systems are particularly addressed, including their structure, technology trends, and vulnerability to radiation induced errors. Radiation testing methodologies and bitmap-based statistical analysis are introduced to evaluate memory reliability. The lectures further investigate reliability concerns in microcontrollers and FPGAs, analyzing architectural aspects and the impact of technology scaling. Advanced topics include low-observable systems, enhanced observability features, and emerging challenges in Artificial Intelligence hardware. In particular, the self-resilience of convolutional neural networks (CNNs), the reliability of AI accelerator modules, and the effects of radiation-induced soft errors on approximate computing systems are discussed.

Finally, the lectures will introduce the methodologies to make in field test in irradiation facilities.

Βιογραφικό Σημείωμα

Luigi Dilillo received his master’s degree in Electronic Engineering from the Politecnico di Torino, Italy, in 2001, with specialization in Microelectronics. He received his Ph.D. degree in Information, Structures, and Systems from the University of Montpellier, France, in 2005. He did a post-doc at the University of Southampton, United Kingdom, from 2005 to 2007. He is currently a researcher and leader of RADIAC team at IES (University of Montpellier).